仪器名称:场发射透射电子显微镜

品牌及型号：日本电子JEM-F200

仪器介绍：JEM-F200场发射透射电子显微镜，配备高亮度冷场发射电子枪，可达到更高的分辨率。自动化测角台和全自动光阑系统，可实现自动进出样品杆，以及计算机系统控制光阑。配备双能谱探头，搭配STEM模式，可实现快速高精度的EDS分析(点扫、线扫、面扫)。在材料的形貌拍摄、晶体结构表征、样品元素分析等方面发挥重要作用。

应用范围：材料的形貌拍摄，晶体结构表征，样品元素分析等

功能参数：

1.成像模式：TEMSTEM

2.加速电压：80,200kV

3.冷场发射电子枪

4.双能谱探头（支持mapping）

5.BF、DF、SEI/BEI探头

6.全自动光阑系统和自动进样功能

7.Gatan底插式Rio16相机

8.放大倍数：50~20,000,000(TEM); 100~150,000,000(STEM SEI/BEI)

9.TEM:点分辨率：0.23nm@200KV 线分辨率：0.10nm@200KV STEM:分辨率：0.16nm@200KV

样品要求：

粉末：负载型催化剂，量子点，纳米颗粒等。

块体/薄膜材料：金属，陶瓷，电极片，FIB制备的减薄样品等。

生物样品：部分生物切片样品

放置位置：西山湖园区2号楼103房间

联系人：崔文浩

电子邮箱：cuiwenhao@dicp.ac.cn