仪器名称及型号：场发射透射电子显微镜（JEM-F200）

仪器介绍：

应用范围：材料的形貌拍摄，晶体结构表征，样品元素分析等

功能参数：

1.成像模式：TEMSTEM

2.加速电压：80,200kV

3.冷场发射电子枪

4.双能谱探头（支持mapping）

5.BF、DF、SEI/BEI探头

6.全自动光阑系统和自动进样功能

7.Gatan底插式Rio16相机

8.放大倍数：50~20,000,000(TEM); 100~150,000,000(STEM SEI/BEI)

9.TEM:点分辨率：0.23nm@200KV  线分辨率：0.10nm@200KV    STEM:分辨率：0.16nm@200KV

放置位置：西山湖园区2号楼103房间

联系人：崔文浩

电子邮箱：cuiwenhao@dicp.ac.cn