仪器名称及型号：透射电子显微镜（JEM-2100）

仪器介绍：

应用范围：

1.形貌观察：凡是在TEM观察范围内的样品

2.高分辨像：如多相催化中小颗粒分析；晶体缺陷、晶界、相界；非晶薄膜上的纳米晶

3.电子衍射：如确定晶体的点阵结构、测定点阵常数、晶体缺陷（位错、层错、空位等）

4.衍射衬度成像（明场像、暗场像）

5.X射线能谱分析；元素定点分析

功能参数：

1.成像模式：TEM

2.加速电压：30,60,120,200kV

3.球差系数：1.0mm

4.点分辨率：0.23nm

5.晶格分辨率：0.14nm

6.电子枪：LaB6

7.倾斜角：±35/30°

8.放大倍数：×2000~1500 000

放置位置：能源楼45-A-B06

联系人：赵阳

联系方式： 0411-84379653