球差校正透射电子显微镜
发布时间：2019-11-05 浏览量：
仪器名称及型号：球差校正透射电子显微镜（JEOL JEM-ARM200F）
仪器介绍
应用范围：可以对各种无机材料做原子分辨率晶体结构、电子结构、微区成分分析。
功能参数：
1.成像模式：STEM,HAADF, MAADF, BF, ABF, TEM
2.加速电压：200, 120, 80KV
3.热场发射电子枪
4.束斑像差矫正器
5.STEM点分辨率0.08nm
6.100mm2SDD能谱
7.GIF Quantum ER能量过滤系统
放置位置：大连化物所西山湖园区2号楼106
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