平台举办“飞行时间-二次离子质谱应用及进展”系列培训
发布时间:2024-06-05 浏览量:
“2024年度能源研究技术平台培训系列——飞行时间二次离子质谱应用及进展”两场所外专家报告分别于5月28日上午和5月31日下午在能源基础楼会议室举行。报告分别由能源研究技术平台主任靳艳研究员和质谱分析技术组负责人王莉副研究员主持。
5月28日上午,中国科学院化学研究所汪福意研究员和张燕燕副研究员分别进行了名为“飞行时间二次离子质谱及其应用”以及“原位液相飞行时间二次离子质谱新技术”的专题报告。汪福意研究员的报告介绍了飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的工作原理、应用领域及应用TOF-SIMS成像技术在单细胞水平上的药物分子作用机理研究。张燕燕副研究员的报告内容主要包括原位液相TOF-SIMS新技术的原理、技术特色及其在动态液体/固液界面原位分析中的应用案例。
5月31日下午,清华大学分析中心TOF-SIMS机组负责人李展平高级工程师进行了名为“飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用”的专题报告。报告介绍了TOF-SIMS的基本原理、技术特点、以及它在有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等各种领域的应用。最后,科研人员就感兴趣的问题与报告专家进行了深入的讨论。
作为一种强大的表面分析技术,TOF-SIMS在众多领域已得到广泛应用。能源研究技术平台在2024年安排了多次关于TOF-SIMS的宣讲、培训及专家报告,吸引了所内职工和学生近百人参会交流,有助于我所科研人员深入了解TOF-SIMS的功能特点、技术优势及应用进展,为多领域材料的表征研究拓展了新方法和新思路。(文/于洋 图/杨婷)
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